关节臂测量仪
您当前的位置 : 首 页 > 新闻中心 > 半导体测量资讯

无锡天之瑞科技说一说半导体测量的测试系统包括哪些项目

2022-04-25 16:04:42

无锡天之瑞科技说一说半导体测量的测试系统包括哪些项目

半导体产品,又被称为集成电路或者IC。在半导体测量中常用DUT来表示需要检测的IC单元。半导体测量的主要目的,是利用测试设备执行设定好的测试工作,然后对得到的各项参数值进行判断是否符合设计时的规范,而这些参数值会记录在规格表中。

一般测试系统会根据测试项目不同提供不同的测量参数。例如直流测试、功能测试、交流测试等。直流测试,是验证IC的电压与电流值;功能测试,是验证其逻辑功能是否正确;交流测试则是验证其是否在正确的时间点上进行设定的功能。

在半导体测量过程中通常需要测试程序来控制测试系统的硬件,并对每次的测试结果,作出判断Pass或Fail。如果测试结果符合设计的要求则Pass,相反地,不符合设计时则为Fail。所以在搭建您的测试系统时要明确您的产品需要进行哪种测试。

半导体测量

半导体测量程序的目的是控制测试系统硬件以某种方式保障被测器件符合它的那些被具体定义在器件规格书里的设计指标。

检测程序通常分为几个部分,如 DC测试、功能测试、 AC测试等。 DC测试验证电压及电流参数;功能测试验证芯片内一系列逻辑功能操作的正确性;AC测试用以让芯片能在特定的时间约束内完成逻辑操作。

程序控制测试系统的硬件进行测试,对每个测试项给出 pass或 fail的结果。Pass指器件符合了半导体检测的设计规格; Fail则相反,器件没有符合设计要求,不能用于应用。

程序还要有控制外围测试设备比如 Handler 和 Probe 的能力;还要搜集和提供摘要性质 (或格式) 的测试结果或数据, 这些结果或数据提供有价值的信息给半导体测量或生产工程师,用于分析和控制。


无锡天之瑞科技有限公司坐落于太湖之滨,无锡市高新科技产业区。公司主营业务为两大块:为制造型企业提供测量仪器和非标自动化检测解决方案。关节臂测量仪,半导体测量,GOM三维扫描仪

公司成立以来,天之瑞以严谨及高.效的态度,协助客户克服检测难点,提高加工检测效率,迅速成为客户值得信赖的合作伙伴!


最近浏览:

联系我们

icon1.png 公司名称:无锡天之瑞科技有限公司

icon2.png  联系手机:18800576288  张先生

icon3.png  联系电话: 0510-81081298

icon5.png 公司邮箱:info@tech-real.cn

icon6.png 公司地址:江苏省无锡市新吴区天山路6-515号

icon7.png 关键词:关节臂测量仪,半导体测量,GOM三维扫描仪

苏公网安备 32021402002077号